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      Keithley 晶體管測試系統
      • Keithley 晶體管測試系統
      • “系統采用Keithley高精度源表,配合強大的軟件分析功能,可用來測定晶體管的共集電極、共基極、共發射極的輸入特性、輸出特性、轉換特性、α、β參數特性;可測定各種反向飽和電流 ICBO、ICEO、IEB0和各種擊穿電壓 BUCBO、BUCEO、BUEBO等;還可以測定二極管、穩壓管、可控硅、隧道二極管、場效應管及數字集成電路的特性,用途廣泛!
      • Keithley測試系統,讓測試更簡單,高效,智能。

      軟件試用請點下面“產品技術資料”下載
      • 起始價格
      •    

      系統背景:
          功率半導體器件技術自新型功率MOS器件問世以來得到長足進展,已深入到工業生產與人民生活的各個方面,一些諸如SJ在內的新結構的研究,功率半導體技術正朝著高溫,高頻,低功耗,高功率容量方向發展,以SIC/GA為代表的第三代新材料功率半導體器件正在不斷走向成熟。這些器件高功率半導體器件和組件的特性分析與測試對測試設備要求越來越高,需要高達數十安培的電流和數千伏的電壓測量及更高的測試精度。
            傳統圖示儀在精度,量程,可靠性以及可生成曲線種類局限,無法編程控制,數據存儲操作復雜等諸多因素,在電源的設計、來料檢驗及失效分析環節略顯力不從心,在高效率精密電源的關鍵元器件選型和質量管控上更為捉襟見肘。
            由于TEK 的370B的停產,廣州美達克科技有限公司基于Keithley高功率源表,配有多種高質量儀器、線纜、測試夾具和軟件,可以替代370B的一體化解決方案,滿足高壓,大電流,高精度的測試要求,解決操作復雜,接線麻煩等一系列問題,使測試更簡單,高效,可以高度定制。

      系統說明:

                 晶體管測試系統基于數字源表?源測量單元(SMU)和/或半導體特性分析儀器。這些儀器的動態范圍和準確度比傳統曲線跟蹤儀高出若干數量級,滿足當今功率半導體器件對高電壓,大電流,高精度的要求。
      為了實現這個性能,配合一系列高精密電纜,實現與吉時利8010型高功率器件測試夾具的連接。對于高電壓通道,定制三軸電纜可以提供保護路徑,支撐快速建立和極低電流,包括在3kV全高壓情況下。對于高電流通道,專用低電感電纜可以提供更快的上升時間脈沖,實現器件自發熱效應的最小化。安全、高效的測試夾具至關重要。8010型夾具可以提供互鎖的屏蔽環境,支持低電流/高電壓測試以及高電流/低電壓測試。8010型夾具包括與高精度電纜匹配的高性能連接器以及保護電路,防止在器件故障情況下高壓通道破壞基極/柵極通道。
            為了使測試更簡單方便,配合專業的測試軟件,可以配置包括特性分析工程師快速開發完整測試系統所需的一切。軟件提供完整的器件特性分析,包括:曲線模式,用于測試IV曲線,提取器件參數。實時跟蹤模式,用于對器件主要參數(如擊穿電壓)進行快速檢測;組合模式,客戶可以根據需要設置測試來回掃描次數,測試序列的間隔時間,可以幫助客戶無需手動操作即可自動長時間測試器件,以達到對器件的可靠性壽命測試,4個窗口同時顯示曲線可以幫助客戶進行曲線參數對比。更重要的是,用戶可以對全部測試源進行完全控制,使他們能夠創建前所未有的更先進測試。


      測試系統特點: 

            - 測量動態范圍寬:電壓從uA到3KV,電流從fA到50A
      - 高精度,電流分辨率達到fA級
      - 具有曲線模式,跟蹤模式,組合模式,可以進行IV曲線多次測試,來回掃描測試,器件參數提取,失效分析,可靠性分析等
      - 配置簡單,一體化設計,儀器設定由上位機軟件完成
      - 友好操作的人機界面,軟件可實現高度定制

       測試參數匯總

             1.針對MOS管器件的參數:

            

             2.針對BJT的測試參數:

            

             3.測試IGBT的參數范圍:

             

            選型指南:

            



      Title Document Type
      2700數據采集軟件 Keithley 2700 DAQ System V1.2 技術數據

      廣州美達克數據科技有限公司

      儀器事業部:020-83709568/83802175

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